Prof. Dr.-Ing. Nils Ger­hardt

• seit 2017: Fester Fakultätsmitarbeiter
  Photonik and Terahertz Technologie
  Ruhr-Universität Bochum
• 2014-2017: Akademischer Oberrat auf Zeit
  Photonik and Terahertz Technologie
  Ruhr-Universität Bochum
• 2013: Ha­bi­li­ta­ti­on in Op­to­elek­tro­nik und Pho­to­nik
  Ruhr-Uni­ver­si­tät Bo­chum
  „More than Moore - Novel Pho­to­nic Con­cepts for In­for­ma­ti­on Tech­no­lo­gy“
• Seit 2011: Mit­glied des Jun­ges Kol­leg der Nord­rhein-West­fä­li­schen Aka­de­mie der Wis­sen­schaf­ten und der Küns­te
• seit 2008: Aka­de­mi­scher Rat auf Zeit
  Pho­to­nik und Tera­hert­z­tech­no­lo­gie
  Ruhr-Uni­ver­si­tät Bo­chum
• 2006-2013: Ge­sell­schaf­ter pho­to­nIQ GbR / pho­to­nIQ Tech­no­lo­gies GmbH
• 2006-2007: Ge­schäft­füh­ren­der Ge­sell­schaf­ter
  pho­to­nIQ GbR, Bo­chum
• 2006: Fir­men­grün­dung pho­to­nIQ GbR, Bo­chum zu­sam­men mit Dr. S. Hoff­mann
  ab 2008 pho­to­nIQ Tech­no­lo­gies, GmbH
• 2006: PostDoc
  Optoelektronische Geräte und Materialien
  Ruhr-Universität Bochum (Teilzeit)
  2005: Pro­mo­ti­on (Dr.-Ing.) bei Prof. Dr. M.R. Hof­mann
  Ruhr-Uni­ver­si­tät Bo­chum
  „Op­ti­sche Ver­stär­kung und Spin-kon­trol­lier­te Emis­si­on von Halb­lei­ter­la­sern“
• 2003: Ma­rie-Cu­rie Fel­low (Gast­wis­sen­schaft­ler) bei Prof. Dr. M. Pessa
  Op­to­elec­tro­nic Re­se­arch Cen­ter,
  Uni­ver­si­ty of Tam­pe­re, Fin­land
• 2001: Di­plom­ar­beit (Di­pl-Phys.) bei Prof. Dr. W.W. Rühle
  Phil­ipps-Uni­ver­si­tät Mar­burg
  „Op­ti­sche Spek­tro­sko­pie an (GaIn)(NAs)/GaAs für 1.3µm Halb­lei­ter­la­ser“
• 1996-2001: Stu­di­um der Phy­sik an der Phil­ipps-Uni­ver­si­tät Mar­burg
• 1995: Ab­itur am Frei­herr-vom-Stein Gym­na­si­um, Bünde

• Halb­lei­ter­spek­tro­sko­pie, Ma­te­ri­al- und Bau­ele­mentent­wick­lung

• Ent­wick­lung und Cha­rak­te­ri­sie­rung op­to­elek­tro­ni­scher Bau­ele­men­te
• Spin­tro­nik und Spi­n­op­to­elek­tro­nik
• Ul­tra­schnel­le Spin­la­ser
• Si­li­con Pho­to­nics – Halb­lei­ter­la­ser auf Si­li­zi­um
• Mi­kro- und Na­nos­pek­tro­sko­pie

• Op­ti­sche Bild­ge­bung und In­ter­fe­ro­me­trie

• Op­ti­sche Ko­hä­renz­to­mo­gra­phie (OCT)
• Di­gi­ta­le und pho­to­re­frak­ti­ve Ho­lo­gra­phie
• Kon­fo­ka­le Mi­kro­sko­pie
• Pho­to­akus­tik

GOOG­LE SCHO­LAR CI­TA­TI­ONS

• Op­ti­sche Ver­stär­kung in Halb­lei­tern
• Spi­n­op­to­elek­tro­nik
• Op­ti­sche Ko­hä­renz­to­mo­gra­phie
• Ho­lo­gra­phie
• Pho­to­akus­tik
• Mo­der­ne Mi­kro­sko­pie