Messmethoden

Auswahl an Messmethoden, die uns in unserer täglichen Forschung zur Verfügung stehen: 

Op­ti­sche Spek­tro­sko­pie für die Ma­te­ri­al- und Bau­ele­mentent­wick­lung

  • Zeit­in­te­grier­te Pho­to- und Elek­tro­lu­mi­nes­zenz (4–325K)
  • Zeit­auf­ge­lös­te Pho­to­lu­mi­nes­zenz (Zeit­auf­lö­sung 2ps/ 4–325K)
  • Mi­kro­pho­to­lu­mi­nes­zenz (Orts­auf­lö­sung 500nm)
  • Ein­zelp­ho­to­nen­spek­tro­sko­pie
  • Po­la­ri­sa­ti­ons­auf­ge­lös­te Spek­tro­sko­pie auf Basis der Mül­ler-Ma­trix-Ana­ly­se
  • Ma­gnet­feld­ab­hän­gi­ge Spek­tro­sko­pie bis 3.​5T
  • Ra­man-Spek­tro­sko­pie
  • Ver­stär­kungs­spek­tro­sko­pie von pro­zes­sier­ten und un­pro­zes­sier­ten Halb­lei­ter­la­sern (Hak­ki-Pao­li, Trans­mis­si­ons­me­tho­de, Op­ti­sche-Strich­län­gen­me­tho­de)

Op­ti­sche Bild­ge­bung und neue Bild­ge­bungs­sys­te­me

  • Klas­si­sche und spek­tro­sko­pi­sche op­ti­sche Ko­hä­renz­to­mo­gra­phie (OCT und SOCT)
  • Di­gi­ta­le und pho­to­re­frak­ti­ve Ho­lo­gra­phie
  • Di­gi­ta­le ho­lo­gra­phi­sche Mi­kro­sko­pie
  • Ein­zel­schussho­lo­gra­phie
  • Pho­to­akus­tik mit Halb­lei­ter­la­ser­sys­te­men
  • La­ser-Scan­ning und kon­fo­ka­le Mi­kro­sko­pie
  • Op­ti­sche To­mo­gra­phie

Halb­lei­ter­la­ser­dy­na­mik

  • Kurz­puls­ver­mes­sung mit­tels Au­to­kor­re­la­ti­on
  • Dis­per­si­ons und Chirp-Mes­sun­gen mit­tels FROG (Fre­quen­cy re­sol­ved op­ti­cal gating)
  • Dis­per­si­ons­kon­trol­le mit­tels evo­lu­tio­nä­rer Al­go­rith­men und Spa­ti­al Light Mo­du­la­tors (SLMs)
  • Vier-Wel­len-Mi­schen in Halb­lei­ter­la­sern

Tera­hert­z­tech­no­lo­gie

  • Dau­er­strich-THz-Spek­tro­sko­pie und Bild­ge­bung mit­tels zwei sta­bi­li­sier­ter Halb­lei­ter­la­ser
  • Ti­me-Do­main THz-Spek­tro­sko­pie und Bild­ge­bung mit­tels Fa­ser­la­ser
  • Re­fle­xi­ons- und Trans­mis­si­onst­o­mo­gra­phie und Bild­ge­bung bei 300G­Hz