UNTERSUCHUNG VON ALGORITHMEN UND ANWENDUNGEN IM BEREICH DER OPTISCHEN MESSTECHNIK
Be­treu­ung: Prof. Dr. Martin R. Hofmann, Prof. Dr. Georg Schmitz
Autor: M. Eng. Benedikt Pongs

TERAHERTZ TOMOGRAPHY
Be­treu­ung: Prof. Dr. Martin R. Hofmann, Prof. Dr. Georg Schmitz
Autor: M. Sc. Hakan Aydin

MATERIAL ANALYSIS USING TERAHERTZ TECHNOLOGY
Be­treu­ung: Prof. Dr. Martin R. Hofmann, Prof. Dr. Serim Ilday
Autor: M. Sc. Joshua Nyairo Onkangi

HOLOGRAPHIC CHARACTERIZATION OF SEMICONDUNTORS
Be­treu­ung: Prof. Dr. Martin. R. Hofmann, Prof. Dr. Clara J. Sa­ra­ce­no
Autor: M. Sc. Leon Zens

DIODENLASERBASIERTE SENSORSYSTEME
Be­treu­ung: Prof. Dr. Martin. R. Hofmann, Prof. Dr. Thomas Musch
Autor: B. Sc. Niklas Schulz

MATERIALIDENTIFIKATION DURCH TERAHERTZSPEKTROSKOPIE
Be­treu­ung: Prof. Dr. Martin. R. Hofmann, Prof. Dr. Aydin Sezgin
Autor: M. Sc. Sebastian Gassel

MO­DER­NE MI­KRO­SKO­PIE­VER­FAH­REN ZUR ANA­LY­SE VON MI­KRO- UND NA­NO­ST­RUK­TU­REN
Be­treu­ung: Prof. Dr. Mar­tin R. Hof­mann , Prof. Dr. An­dre­as Wieck
Autor: Dipl.-Ing. Mar­kus Fin­kel­dey

DI­ODEN­LA­SER­SYS­TE­ME FÜR TERA­HERT­Z­AN­WEN­DUN­GEN
Be­treu­ung: Prof. Dr. Mar­tin R. Hof­mann , Prof. Dr. Tho­mas Mus­sen­brock
Autorin: M. Sc. Yinghui Hu

MUL­TI­MODA­LES OP­TO­ELEK­TRO­NI­SCHES THZ SPEK­TRO­SKO­PIE SYS­TEM
Be­treu­ung: Prof. Dr. Martin R. Hofmann, Prof. Dr. Clara J. Sa­ra­ce­no
Autorin: M. Sc. Alex­an­dra Ger­ling

UN­TER­SU­CHUN­GEN ZU SPIN-KON­TROL­LIER­TEN HALB­LEI­TELA­SERN
Be­treu­ung: Prof. Dr. Mar­tin R. Hof­mann , Prof. Dr. An­dre­as Wieck
Autorin: M. Sc. Na­ta­lie Jung

NEUE KON­ZEP­TE FÜR OP­TI­SCHE BILD­GE­BUNGS­VER­FAH­REN
Be­treu­ung: Prof. Dr. Mar­tin R. Hof­mann , Prof. Dr. Georg Schmitz
Autor: M. Sc. Jens Möl­ler

DI­ODEN­LA­SER­BA­SIER­TE THZ-SYS­TE­ME
Be­treu­ung: Prof. Dr. Mar­tin R. Hof­mann , Prof. Dr. Ilona Rol­fes
Autorin: M. Sc. Lisa Kreu­zer

THZ SYS­TE­ME AUF BASIS MO­DEN­GE­KOP­PEL­TER DI­ODEN­LA­SER
Be­treu­ung: Prof. Dr. Mar­tin R. Hof­mann , Prof. Dr. Ilona Rol­fes
Autorin: M. Sc. Anja Na­vi­na Klee­mann