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2601. Plas­ma-Dia­gnos­tik - Plas­ma-Dia­gnos­tik  
Plas­ma-Dia­gnos­tik Un­se­re For­schungs­ak­ti­vi­tä­ten auf dem Ge­biet der Plas­ma­dia­gnos­tik be­fas­sen sich mit der schnel­len…  
2602. Mehrtor­mes­sun­gen mit­tels vek­to­ri­el­ler Netz­werkana­ly­sa­to­ren - Mehrtor­mes­sun­gen mit­tels vek­to­ri­el­ler Netz­werkana­ly­sa­to­ren  
Mehrtor­mes­sun­gen mit­tels vek­to­ri­el­ler Netz­werkana­ly­sa­to­ren Die Mes­sung der kom­ple­xen Streu­pa­ra­me­ter von Mess­ob­jek­ten mit…  
2603. Ma­te­ri­al­cha­rak­te­ri­sie­rung - Ma­te­ri­al­cha­rak­te­ri­sie­rung  
Ma­te­ri­al­cha­rak­te­ri­sie­rung Das For­schungs­the­ma Ma­te­ri­al­cha­rak­te­ri­sie­rung be­han­delt die Ent­wick­lung von…  
2604. Bildgebende Radarsysteme und MIMO-Radar - Bildgebende Radarsysteme und MIMO-Radar  
Bildgebende Radarsysteme und MIMO-Radar Ein gro­ßes For­schungs­feld in­ner­halb der Ra­dar­tech­nik stel­len bild­ge­ben­de…  
2605. Antennensysteme - Antennensysteme  
Antennensysteme Antennen bilden die Schnittstelle zwischen hochfrequenten Sende- und Empfangsschaltungen und der drahtlosen Übertragung durch den Raum. Je nach Anwendung unterscheiden sich die…  
2606. Materialcharakterisierung - Kalibrierfähige Mikrowellen- und Millimeterwellen Messverfahren zur kontaktlosen und zerstörungsfreien Materialcharakterisierung  
Kalibrierfähige Mikrowellen- und Millimeterwellen Messverfahren zur kontaktlosen und zerstörungsfreien Materialcharakterisierung Ziel die­ses For­schungs­vor­ha­bens ist es,…  
2607. Plaque-CharM - Plaque-Charm – Plaque-Charakterisierung mittels Millimeterwellen auf einem Katheter  
Plaque-Charm – Plaque-Charakterisierung mittels Millimeterwellen auf einem Katheter Ar­te­rio­skle­ro­se ist in den west­li­chen…  
2608. PluTO+ - Pluto+ - Plasma und optische Technologien: Erhöhung der Qualität und Ausbeute optischer Beschichtungstechnologien  
Pluto+ - Plasma und optische Technologien: Erhöhung der Qualität und Ausbeute optischer Beschichtungstechnologien Plas­men fin­den viel­fa­che An­wen­dun­gen in…  
2609. PINK - PINK - Ra­dar­ba­sier­tes, mo­du­la­res Elek­tro­nik­sys­tem mit höchs­ter Prä­zi­si­on für in­dus­tri­el­le Test- und Ka­li­brier­auf­ga­ben  
PINK - Ra­dar­ba­sier­tes, mo­du­la­res Elek­tro­nik­sys­tem mit höchs­ter Prä­zi­si­on für in­dus­tri­el­le Test- und Ka­li­brier­auf­ga­ben Zu­sam­men mit den…  
2610. Jonas Schorlemer  
 
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