Messmethoden
Auswahl an Messmethoden, die uns in unserer täglichen Forschung zur Verfügung stehen:
Optische Spektroskopie für die Material- und Bauelemententwicklung
- Zeitintegrierte Photo- und Elektrolumineszenz (4–325K)
- Zeitaufgelöste Photolumineszenz (Zeitauflösung 2ps/ 4–325K)
- Mikrophotolumineszenz (Ortsauflösung 500nm)
- Einzelphotonenspektroskopie
- Polarisationsaufgelöste Spektroskopie auf Basis der Müller-Matrix-Analyse
- Magnetfeldabhängige Spektroskopie bis 3.5T
- Raman-Spektroskopie
- Verstärkungsspektroskopie von prozessierten und unprozessierten Halbleiterlasern (Hakki-Paoli, Transmissionsmethode, Optische-Strichlängenmethode)
Optische Bildgebung und neue Bildgebungssysteme
- Klassische und spektroskopische optische Kohärenztomographie (OCT und SOCT)
- Digitale und photorefraktive Holographie
- Digitale holographische Mikroskopie
- Einzelschussholographie
- Photoakustik mit Halbleiterlasersystemen
- Laser-Scanning und konfokale Mikroskopie
- Optische Tomographie
Halbleiterlaserdynamik
- Kurzpulsvermessung mittels Autokorrelation
- Dispersions und Chirp-Messungen mittels FROG (Frequency resolved optical gating)
- Dispersionskontrolle mittels evolutionärer Algorithmen und Spatial Light Modulators (SLMs)
- Vier-Wellen-Mischen in Halbleiterlasern
Terahertztechnologie
- Dauerstrich-THz-Spektroskopie und Bildgebung mittels zwei stabilisierter Halbleiterlaser
- Time-Domain THz-Spektroskopie und Bildgebung mittels Faserlaser
- Reflexions- und Transmissionstomographie und Bildgebung bei 300GHz
